Измерение толщины тонких пленок 

Рады предложить Вам модельный ряд рефлектометров от компании Thetametrisis. На выбор предлагается широкая линейка систем измерения толщины тонких пленок и оптических констант. Имеются как ручные варианты, так и полностью автоматизированные системы анализа. Огромное количество опций, такие как встроенный микроскоп, измерение при температуре, измерение пленки в режиме online, специальные держатели под образцы заказчика. Модельный ряд представлен системами измерения FR-pOrtable, FR-Basic, FR-μProbe, FR-Scanner.

Система измерения толщины тонких пленок и констант FR-pOrtable

Система FR-pOrtable измерения толщины тонких пленок позволяет работать с широкой линейкой материалов микроэлектроники и пленками различной толщины и природы. Отличительной чертой данной системы толщины пленок является ее компактность и простота управления во время процесса анализа поверхности. К системе анализа пленок FR-pOrtable от компании Thetametrisis идет огромное количество комплектующих и других опций, которые помогут оптимизировать процесса измерения пленок. Подробнее по ссылке. 

Прибор для измерения толщины тонких пленок FR pRo VIS NIR

Прибор для измерения толщины тонких пленок и оптических констант модели FR-Basic имеет модульную конструкцию, что позволяет собрать нужную конфигурацию под задачи заказчика. Отличительной особенностью данного прибора измерения пленок модели FR-Basic, является широкий спектральный диапазон и компактный дизайн. Корпус и движущие детали выполнены из современных материалов, которые позволяют эксплуатировать прибор для измерения толщины долгое время. Подробнее по ссылке.   

Измеритель толщины тонких пленок и оптических коэффициентов FR-μProbe с микроскопом

Специальный измеритель толщины тонких пленок и оптических коэффициентов модели FR-μProbe, позволяющий мерить широкий диапазон пленок и покрытий. Отличительной особенностью данного измерителя толщины, является микроскоп, позволяющий наблюдать за процессом анализа поверхности и контролировать работу. Микроскоп может быть подобран, исходя из требуемых увеличений и задач, а также предпочтений заказчика к определенным маркам измерительных систем. Подробнее по ссылке.

Рефлектометр для измерения толщины тонких пленок и оптических характеристик FR Scanner VIS NIR

Рефлектометр для измерения толщины тонких пленок и оптических характеристик модели FR-Scanner от греческой производственной компании Thetametrisis. Отличительной особенностью данного рефлектометра модели FR-Scanner является автоматическое построение 3D карт поверхности. Благодаря высокой скорости сканирования, заказчик может получить полный анализ поверхности пленок в кротчайшее время. Например, сканирование 8-дюймовой пластины Si в 625 точках занимает менее 60 секунд. Подробнее по ссылке.