Прибор для измерения толщины тонких пленок

Прибор для измерения толщины тонких пленок и оптических констант FR-Basic

FR-Basic модульная и расширенная универсальная серия инструментов измерения пленок выполненная на единой технологической платформе. Полностью универсальная система, которая позволяет сконструировать прибор для измерения толщины пленок, исходя из задач заказчика и потребности клиента. Данный инструмент рефлектометр может быть использован в широком диапазоне спектра и может достигать 1700 нм. FR-Basic состоит из четырех модулей: спектрометр, опорная технологическая платформа, соединительный элемент, специальные держатели. Огромное количество опций, такие как измерение при температуре, измерение в нейтральной среде (например, азот).   

Прибор для измерения пленок

Измерение полупроводниковых пленок

На рефлектометре FR-Basic возможно измерение полупроводниковых пленок. (соединения алюминия AlAs, AlCu, AlGaAs и другие материалы, которые используются для создания лазеров ближнего ИК-диапазона, соединения кадмия CdS, CdSe, GdTe и другие материалы, которые применяют при разработке люминесцентных датчиков и сенсоров на основе пленок квантовых точек на различных поверхностях, использования пленок наночастиц в солнечных батареях). На приборе FR-Basic также можно выполнить измерение резистивных пленок, а также диэлектрических и оптических слоев. 

Прибор для измерения толщины купить

Чтобы получить коммерческое предложение и купить прибор для измерения толщины тонких пленок и оптических констант, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.