Инспекционные микроскопы Nikon позволяют проверять качество пластин, печатных плат и интегральных схем. Модельный ряд представлен четырьмя инспекционными микроскопами: Nikon ECLIPSE LV100ND, Nikon ECLIPSE LV150N / LV150NA, Nikon ECLIPSE L200N / L200ND, Nikon ECLIPSE L300N / L300ND. Микроскопы укомплектованы компьютером с мощным программным обеспечением. Модель L200N может оснащаться автоматическим загрузчиком пластин. Модель Nikon L300N позволяет работать с пластинами 300 мм.
Конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения. Подходит для наблюдений по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК, эпифлуоресценции и двухлучевой интерферометрии. Подробнее о микроскопе по ссылке.
Микроскоп, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Высокая числовая апертура и большое рабочее расстояние являются залогом высоких оптических характеристик. Снабжена надлежащей защитой от статического электричества, что делает ее подходящей для работы с магнитными головками. Микроскоп может быть полезен от разработки до осуществления технологического контроля в процессе производства. Подробнее о микроскопе по ссылке.
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Модель микроскопа Nikon L200N поможет при изучении полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. Микроскоп L200ND позволяет осуществлять наблюдения при диаскопическим освещении с использованием различных методик: светлое и темное поле, простая поляризация и DIC (дифференциально-интерференционный контраст). Подробнее о микроскопе по ссылке.
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Модель микроскопа L300N позволяет изучать полупроводниковые пластины диаметром до 300 мм при эпископическом освещении, а на модели L300ND возможен анализ микроэлектронных образцов при эпископическом и диаскопическом освещении. Тринокулярный тубус с регулируемым углом наклона позволяет осуществлять наблюдение на оптимальном для наблюдателя уровне. Подробнее о микроскопе по ссылке.