Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Рады Вам предложить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND. Данный микроскоп создан специально для нужд микроэлектроники и радиоэлектронной промышленности. Микроскоп для микроэлектроники позволяет производить инспекцию полупроводниковых пластин и фотошаблонов, а также изделий оптоэлектроники и лазерной техники. Одной из особенностью микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND является то, что он может работать с образцами высотой до 38 мм, тем самым позволяет производить инспекцию с приборами в сборе.  

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND   

Методы анализа и инспекции микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND:
— Светлое и темное поле
— Поляризация
— Дифференциальный интерференционный контраст ДИК
— Эпифлуоресценция и двухлучевая интерферометрия

Инспекция пластин на микроскопе Nikon ECLIPSE   

Области применения и объекты инспекции:
— микроэлектроника, оптические изделия, МЭМС, микросборки, печатные платы, поликоровые подложки
— материаловедение, шлифы, кристаллография, магнитные материалы, волокна, текстиль
— автомобилестроение, детали машин, зубчатые механизмы, резинотехнические изделия
— металловедение, слюда, минералы, часовые механизмы, дисплеи, фотошаблоны

Инспекционный микроскоп Nikon   

Особенности:
Источник отраженного света

Источник отраженного света

При инспектировании полупроводниковых пластин и изделий микроэлектроники необходимо работать в темном поле. При данном методе исследования важен источник отраженного света. Именно поэтому в микроскопе Nikon ECLIPSE LV100ND предусмотрен галогенный источник света мощностью 50 Вт. Галогенная лампа имеет низкое энергопотребление и позволяет минимизировать тепловое воздействие. Галогенный источник отраженного света имеет компактные размеры и удобно встроен в конфигурации инспекционных микроскопов Nikon серии ECLIPSE.   

Инспекция крупногабаритных образцов и объектов требующих нагрев

Предметные столики для микроскопов

Благодаря универсальной конструкции инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV100ND имеется возможность использования предметных столиков различных производителей. Также можно добавить столик с поддержкой температуры, когда требуется анализ изменений свойств образцов при нагревании и охлаждении. Благодаря специальным вставкам в предметных столиках возможна инспекция объектов высотой до 116,5 мм. В стандартную комплектацию микроскопа входит предметный столик LV-S32 3×2 (Диапазон перемещений: 75×50 мм включая стеклянную пластину).

Программное обеспечение с возможностью сшивки изображений

Сшивка изображений на микроскопе Nikon Eclipse LV 100 ND

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND имеет мощное программное обеспечение NIS Elements, позволяющее проводить анализ полученных изображений и делать дальнейшую обработку. У пользователя имеется возможность сшивать несколько изображений для увеличения поля зрения даже во время съемки, а также создавать одно полностью сфокусированное фото, благодаря увеличенной глубине резкости. Результаты измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.

Параметр

Характеристики

Базовый блок Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения
Максимальная высота образца 38 мм
Фокусировочный механизм Слева: грубая и точная фокусировка/ Справа: точная фокусировка, ход 40 мм,

Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки)
Точная фокусировка: 0,1 мм/оборот (шкала 1 мкм)

Револьверы объективов Шестиместный револьвер
Пятиместный универсальный револьвер
«Интеллектуальный» пятиместный универсальный револьвер
Эпископический осветитель Осветитель LV-UEPI-N 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины 
Осветитель LV-UEPI2 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпифлуоресценция, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины
Ртутный осветитель Intensilight C-HGFI 130 Вт с предварительной центровкой
Диаскопический осветитель Осветитель LV-LH50PC 12 В 50 Вт с предварительной центровкой (фасеточная оптика)
Диафрагма осветителя (центрируемая) и апертурная синхронизируемые с переключением режимов падающий/проходящий свет; вставные фильтры (ND8, NCB11)
Окулярный тубус Тринокулярный тубус LV-TI3 ESD (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм)
Наклоняемый тринокулярный тубус LV-TT2 TT2 (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм)
Бинокулярный тубус P-TB (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм)
Тринокулярный тубус P-TT2 (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм)
Предметный столик Предметный столик LV-S32 3×2 (Диапазон перемещений: 75×50 мм включая стеклянную пластину),
Предметный столик LV-S64 6×4 (Диапазон перемещений: 150×100 мм включая стеклянную пластину)
NIU-CSRR2 Вращающийся предметный столик с керамическим покрытием (Диапазон перемещений: 78х54 мм)
Конденсор Ахроматический (светлое поле), сухой (фазовый контраст, диаскопический DIC, тёмное поле), и т.д.
Окуляры Окуляры серии CFI:
10х (поле зрения 22 мм), 10х фотомаска М (поле зрения 22 мм), 10Х фотомаска поля зрения камеры (поле зрения 22 мм), 15х (поле зрения 22 мм), UW 10х (поле зрения 25 мм), UW 10 х фотомаска М (поле зрения 25 мм)
Объектив Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения
Энергопотребление 1,2A/75Вт
Вес (корпус) около 9,5кг

 

Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.