Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L 300 N

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L 300 N

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. Инспекционный микроскоп L 300 N предназначен для изучения полупроводниковых пластин и фотошаблонов диаметром до 300 мм при эпископическом освещении (работа в отраженном свете), модель микроскопа для инспекции L300ND предназначена для изучения подложек диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении (работа в отраженном и проходящем свете). Тринокулярный тубус с регулируемым углом наклона позволяет осуществлять наблюдение на оптимальном для метролога уровне. 

Инспекционный микроскоп
Микроскоп для инспекции пластин
Объективы для микроскопа

В инспекционных микроскопах Nikon ECLIPSE L300N и L300ND используются специальные объективы серии CFI TU Plan Fluor. Данные объективы имеют высокую числовую апертуру и при инспекции пластин позволяет четкие изображения. Благодаря линзам, которые выполнены специалистами Nikon удалось уменьшить хроматические шумы и получить более четкую картинку образцов. Отличительной чертой модели L300ND от ECLIPSE L300N это встроенная галогенная лампа 12В-50Вт, встроенная апертурная диафрагма и встроенный LWD-конденсор.

Особенности инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE L300N и Nikon ECLIPSE L300ND
1 Тринокулярный тубус с регулируемым углом наклона
2 Контроль прецизионного движения по оси X-Y
3 Универсальная револьверная головка с ручным переключением
4 Управление вынесено на переднюю панель

Револьверная головка микроскопа
Предметный столик микроскопа
Управление микроскопом Nikon eclipse
Тубус для микроскопа

Методы анализа: светлое и темное поле, поляризация, ДИК, эпифлуоресценция. Помимо инспекции пластин микроскоп Nikon Eclipse L 300 N может применяться в различных областях
- оптоэлектроника, микроэлектронные изделия, МЭМС - датчики, гироскопы, платы, подложки из ситалла и поликора
- материаловедение, шлифы, кристаллография, магнитные материалы
- автомобилестроение, детали машин, зубчатые механизмы
- металловедение, часовые механизмы, дисплеи, фотошаблоные  заготовки

Инспекционный микроскоп Nikon

Параметр

Характеристики

Корпус Встроенный источник питания с галогенной лампой 12В-50Вт; Моторизированное управление револьверной головкой, контроль яркости освещения, управление апертурной диафрагмой

Револьверная головка: моторизированная универсальная на шесть объективов с функцией центрирования

Переключение между эпископическим и диаскопическим режимами (у модели ECLIPSE L300ND)

Эпископический осветитель Встроенная галогенная лампа 12В-50Вт
Моторизированная апертурная диафрагма (с возможностью центровки). Фиксированная диафрагма осветителя микроскопа (с мирой)
Направляющая с диафрагмой (поставляется отдельно), четыре фильтра 25 мм (NCB11, ND16, ND4), с возможностью установки поляризатора и анализатора
Наблюдение по методу: светлого поля, темного поля, простой поляризации, эпифлуоресценции, ДИК (дифференциально-интерференционный контраст)
Диаскопический осветитель (у модели ECLIPSE L300ND) Встроенная галогенная лампа12В-50Вт
Встроенная апертурная диафрагма
Встроенный LWD-конденсор
Фокусировочный механизм Ход фокусировки: 29 мм
Грубая фокусировка: 12,7 мм/об. (регулировка усилия, имеется механизм рефокусировки)
Точная фокусировка: 0,1 мм/об. (шаг 1 мкм)
Окулярные тубусы L2-TT2A - наклонный тринокулярный тубус (угол наклона: 0-30°) с прямым изображением и полем зрения 25 мм, коэф.разделения пучка 100:0/20:80
L2-TTA - наклонный тринокулярный тубус (угол наклона: 0-30 °) с прямым изображением и полем зрения 25 мм, коэф.разделения пучка 100:0/0:100
LV-TI3 тринокулярный (с прямым изображением, поле зрения 25 мм)
Окуляры Линзы окуляров серии CFI
Объективы CFI TU Plan Fluor
Предметные столики Столик 14x12, перемещение: 354 x 302 мм (диапазон диаскопических наблюдений: 354 x 268 мм)
Возможность грубого и точного перемещения
Контроль перемещения по оси X-Y (с фиксированным положением)
Габариты Примерно 360 (Ш) x 951 (Д) x 581 (В) мм (при угле наклона 10°)
Вес Около 45 кг (только станина) Около 64 кг (с использованием предметного столика 14x12 и окулярного тубуса L2-TTA)

 

Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L 300 N, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.