Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N   

Данный микроскоп для микроэлектроники имеет широкий спектр методов анализа, может использоваться в разных отраслях промышленности, в том числе специально для нужд полупроводниковой сферы, различных направлений радиоэлектронной промышленности, позволяет качественно и комфортно производить инспекцию пластин, шаблонов, изделий оптоэлектроники и лазерной техники.

Одна из особенностей микроскопа: он может работать с образцами высотой до 38 мм (73 мм при использовании вставки – тубуса), тем самым позволяет производить инспекцию с приборами в сборе.  

Микроскоп позволяет использовать широкий спектр методов наблюдений:
светлопольный,
темнопольный,
поляризационный,
дифференциально-интерференционный контраст (ДИК),
эпи-флуоресценции
двух лучевой интероферометрии.

Примеры используемых методов анализа и инспекции:

Вид интегральной схемы с использованием микроскопии методом светлого поля (Brightfield microscopy). 

От объективов до осветительных систем, серия LV-N предлагает меры против вспышки и обеспечивает яркие, высококонтрастные изображения. 

Вид интегральной схемы 

Вид интегральной схемы с использованием микроскопии темного поля (Darkfield microscopy). 

 

 

Вид подложки с использованием микроскопии светлого поля (Brightfield) и дифференциально-интерференционного контраста (Episcopic DIC) 

 

Вид подложки (припоя) с использованием микроскопии светлого поля (Brightfield) и эпи-флуоресценции (Epifluorescence). 

 

Вид минерала с использованием светлопольной микроскопии (Brightfield) и поляризационной микроскопии (Polarizing). 

 

 

Анализ образцов с использованием двулучевой интерферометрии.

Далее указаны основные характеристики инспекционного микроскопа Nikon Eclipse LV 150 N:

Параметр

Характеристики

Базовый блок

Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения

Максимальная высота образца

38 мм (при использовании с револьвертной головкой LVNU5AI U5AI и столика LV-S32 3×2  / LV-S64 6×4)
*73 мм (при установке удлинителя колонны)

Фокусировочный механизм

Левая сторона: грубая и точная фокусировка,

Правая сторона: точная фокусировка, ход 40 мм,

Грубая настройка фокуса: 14 мм/об (имеется механизм регулировки усилия вращения и ре-фокусировки)

Точная настройка фокуса: 0.1 мм/об (шкала 1 мкм)
интервал крепежных отверстий 70х94 (фиксация 4 винтами М4)

Револьверы объективов Шестиместный револьвер C-N6 ESD

Пятиместный универсальный револьвер LV-NU5 ESD

Пятиместный револьвер LV-NBD5 BD ESD

«Интеллектуальный» пятиместный универсальный револьвер LV-NU5I ESD

Эпископический осветитель LV-UEPI-N
LV-LH50PC 12В50Вт (предварительное центрирование)Инспекция: светлое или тёмное поле, поляризация, ДИК, переключение светлого и темного поля, переключение апертурной и полевой диафрагмы (с центрацией).
Имеется возможность установки поляризатора / анализатора, λ-пластины, фильтра 25мм
LV-UEPI2
LV-LH50PC 12В50Вт (предварительное центрирование)Инспекция: светлое или тёмное поле, ДИК, поляризация, эпифлуоресценция, переключение светлого или темного поля, переключение апертурной и полевой диафрагмы (с центрацией).
Имеется возможность установки поляризатора / анализатора, λ-пластины, фильтра 25мм (ND16, ND4, NCB 11)Имеется возможность установки ртутного осветителя C-HGFI 130
Окулярный тубус Тринокулярный LV-TI3ESD (изображение прямое, FOV 22х25мм)
тринокулярный наклоняемый LV-TT2TT2 (изображение прямое, FOV 22х25мм)
Бинокулярный C-TB (Инвертирование изображения, FOV 22мм)
Бинокулярный P-TB (Инвертирование изображения, FOV 22мм)
Тринокулярный P-TT2 (Инвертирование изображения, FOV 22мм)
Предметный столик LV-S32 3×2 (Диапазон: 75×50 мм), совместим с электростатическим разрядом
LV-S64 6×4 (Диапазон перемещений: 150×100 мм), совместим с электростатическим разрядом
LV-S6 6×6 (Диапазон перемещений: 150×150 мм), совместим с электростатическим разрядом
Окуляры Окуляры серии CFI
Объектив Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в соответствии с методом наблюдения
Энергопотребление 1,2A/75 Вт
Вес (корпус) около 8,6 кг

Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.