Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N

Данный микроскоп для микроэлектроники имеет широкий спектр методов анализа, может использоваться в разных отраслях промышленности, в том числе специально для нужд полупроводниковой сферы, различных направлений радиоэлектронной промышленности, позволяет качественно и комфортно производить инспекцию пластин, шаблонов, изделий оптоэлектроники и лазерной техники.

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N

Особенности инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 150 N

Одна из особенностей микроскопа: он может работать с образцами высотой до 38 мм (73 мм при использовании вставки – тубуса), тем самым позволяет производить инспекцию с приборами в сборе.  

Микроскоп позволяет использовать широкий спектр методов наблюдений:
светлопольный,
темнопольный,
поляризационный,
дифференциально-интерференционный контраст (ДИК),
эпи-флуоресценции
двух лучевой интероферометрии.

Примеры используемых методов анализа и инспекции:

Вид интегральной схемы с использованием микроскопии методом светлого поля (Brightfield microscopy). 

От объективов до осветительных систем, серия LV-N предлагает меры против вспышки и обеспечивает яркие, высококонтрастные изображения. 

Вид интегральной схемы 

Вид интегральной схемы с использованием микроскопии темного поля (Darkfield microscopy). 

 

 

Вид подложки с использованием микроскопии светлого поля (Brightfield) и дифференциально-интерференционного контраста (Episcopic DIC) 

 

Вид подложки (припоя) с использованием микроскопии светлого поля (Brightfield) и эпи-флуоресценции (Epifluorescence). 

 

Вид минерала с использованием светлопольной микроскопии (Brightfield) и поляризационной микроскопии (Polarizing). 

 

 

Анализ образцов с использованием двулучевой интерферометрии.

Технические характеристики инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 150 N

Параметр

Характеристики

Базовый блок

Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения

Максимальная высота образца

38 мм (при использовании с револьвертной головкой LVNU5AI U5AI и столика LV-S32 3×2  / LV-S64 6×4)
*73 мм (при установке удлинителя колонны)

Предметный столик LV-S32 3×2 (Диапазон: 75×50 мм), совместим с электростатическим разрядом
LV-S64 6×4 (Диапазон перемещений: 150×100 мм), совместим с электростатическим разрядом
LV-S6 6×6 (Диапазон перемещений: 150×150 мм), совместим с электростатическим разрядом
Окуляры Окуляры серии CFI
Объектив Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в соответствии с методом наблюдения
Энергопотребление 1,2A/75 Вт
Вес (корпус) около 8,6 кг

Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.