Стереомикроскоп Nikon SMZ 745 / SMZ 745 Т

Стереомикроскоп Nikon SMZ 745 / 745 Т

Конструкция модели стереомикроскопа SMZ Nikon 745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях (стереоскопический микроскоп можно использовать не только в чистом помещении, но и в сборочно-монтажной цеху, центральных заводских лабораториях, подразделениях микросистемной техники и в других помещениях, где не требуется повышенного класса чистоты). Модель стереоскопического микроскопа Nikon SMZ 745 выполнена в бинокулярном виде, модель Nikon SMZ 745 T сделана в тринокулярном исполнении. В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, тринокулярный стереомикроскоп Nikon SMZ 745 T имеет большое рабочее расстояние, которое составляет 115 мм, что позволяет работать с образцами в корпусе и с готовыми приборами в сборе. 

Стереомикроскоп Nikon SMZ745 SMZ745Т

Тринокулярный микроскоп

Стереоскопический лабораторный микроскоп Nikon SMZ 745 обладает герметичностью и позволяет избежать попадания пыли и влаги при работе на трудных участках. Стереомикроскоп выполнен в антигрибковом исполнении, благодаря обработке поверхности специальным веществом. Также стоит отметить антистатические свойства цифрового микроскопа модели SMZ 745. Благодаря большому рабочему расстоянию (115 мм) микроскоп Nikon данной модели получил широкое применение при пайке микросхем.

Микроскоп для пайки

Биноулярный микроскоп SMZ 745 подходит для просмотра сварных соединений на плате и их деформацию при тестировании на отрыв, царапин и посторонних элементов (волосы, пыль и др.) на пластине, подготовки проб для электронной и оптической микроскопии, а также наблюдения неровностей геометрии на подложке (качество отверстий после сверления, неровность токопроводящих полосок и т.д.). Стереомикроскоп модели Nikon SMZ 745 позволяет работать с различными микросборками и платами.

Камера микроскоп для пайки

Данный цифровой микроскоп будет полезен для тех, кто работает с СВЧ сборками на пластинах ситалла и поликора размером 60 × 48 мм, а также кто имеет дело с корпусами и необходим контроль маркировки данных изделий. Поможет визуально контролировать процесс при присоединении СВЧ кристалла к основанию корпуса, операции пайки и приклеивания, работу с тонкими проводниками и схемами с малыми контактными площадками. Ниже показано основное отличие цифровых стереомикроскопов Nikon моделей SMZ 745 и 745 Т.

Микроскоп для пайки микросхем

Технические характеристики стереомикроскопа Nikon SMZ 745 / 745 Т:

Параметр

Значение

Оптическая система По Грену (Greenough)
Общее увеличение 3,35-300x (в зависимости от используемого окуляра и вспомогательного объектива)
Методы исследования Светлое поле в проходящем и отраженном свете, темное поле в проходящем свете, поляризация
Порт для цифровой камеры Встроенный порт с линзой 0,55 крат (поле зрения 11 мм) с адаптером С-mount, совместимый с ПЗС-матрицей размером 2/3 дюйма и меньше (доступен только для модели Nikon  SMZ 745 T)
Окулярный тубус Встроенный
Наклон окуляров:  45°
Регулировка межзрачкового расстояния 52-75 мм
Диапазон масштабирования 0,67-5x
Коэффициент трансфокации 7,5:1
Рабочее расстояние 115 мм (со встроенным объективом 1х)
Предметные столики Столик с изменяемым углом наклона 0-30° C-TRS, предметный столик SM-S4L 4×4 дюйма, круглый столик «плавающего» типа, диаскопический столик скользящего типа C-SSL
Вес (приблизительно) 1,55 кг у модели Nikon SMZ 745; 1,8 кг у модели Nikon SMZ 745 T

Чтобы получить коммерческое предложение и купить cтереомикроскоп Nikon SMZ 745 Т, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.