Стереоскопические микроскопы Nikon

Стереоскопические микроскопы Nikon

Стереоскопические микроскопы Nikon

Стереоскопические микроскопы Nikon идеально подходят для просмотра сварных соединений на плате и их деформацию при тестировании на отрыв, царапин и посторонних элементов (волосы, пыль и др.) на пластине, подготовки проб для электронной и оптической микроскопии, а также наблюдения неровностей геометрии на подложке (качество отверстий после сверления, неровность токопроводящих полосок и т.д.). Стереомикроскопы Nikon серии SMZ представлены шестью моделями. 

Стереомикроскоп Nikon SMZ 25

Стереомикроскоп Nikon SMZ 25

Отличительной особенностью данной модели SMZ 25 перед остальными стереомикроскопами линейки Nikon SMZ является наличие системы Auto Link Zoom, которая позволяет в автоматическом режиме настроить коэффициент трансфокации для поддержания того же поля зрения при смене объективов. Функция позволяет осуществлять плавное переключение между изображением целого образца (подложка, плата, корпус) при низком увеличении и подробным изображением элемента (транзистор, конденсатор, контактная площадка ) при большом увеличении. Подробнее по ссылке.  

Стереомикроскоп Nikon SMZ 18

Стереомикроскоп Nikon SMZ 18

Огромным преимуществом SMZ18 перед остальными стереомикроскопами линейки Nikon SMZ является возможность проведения исследований в темном поле (специализированный стенд), а также установлен кодированный револьвер, который позволяет установить два объектива. Еще одной отличительной особенностью микроскопа Nikon SMZ18 является то, что фокусировка производится вручную и Вы как технолог можете контролировать процесс измерения самостоятельно. Подробнее по ссылке.  

Стереомикроскоп Nikon SMZ 1270 / SMZ 1270i

Стереомикроскоп Nikon SMZ 1270 / SMZ 1270i

Отличительной особенностью данной модели стереомикроскопа является то, что при наличии в сочетании с блоком управления камерой DS-L3 и программным обеспечением NIS-Elements, Nikon SMZ1270i способен в автоматическом режиме определять текущий коэффициент увеличения. Стоит отметить, что у данного микроскопа рабочее расстояние составляет 70 мм, что дает возможность технологу работать с большими образцами (пьезодатчики в сборе с креплением, пластины в сборе с корпусом и другие образцы микроэлектроники). Подробнее по ссылке.  

Стереомикроскоп Nikon SMZ 800 N

Стереомикроскоп Nikon SMZ 800 N

Отличительной особенностью данной модели стереомикроскопа является наличие объективов Achro 0.5x ( с рабочим расстоянием 123.5 мм) и ED Plan 0.75x (с рабочим расстоянием 117 мм). Для различных конфигураций предлагаются различные окулярные тубусы — от простой конструкции до систем с рядом промежуточных модулей или цифровых камер. Благодаря эргономичному окулярному тубусу угол наблюдения можно регулировать в диапазоне от 0 до 30 градусов. Подробнее о стереомикроскопе по ссылке.  

Стереомикроскоп Nikon SMZ 745 / SMZ 745 Т

Стереомикроскоп Nikon SMZ 745 / SMZ 745 Т

Отличительной особенностью данной модели стереомикроскопа является то, что он представлен в двух исполнениях: модель SMZ 745 T со встроенной тринокулярной головкой (с портом для цифровой камеры) и модель SMZ 745 с бинокуляром. Для реализации масштабирования 7,5х применяется оптическая система Грену (Greenough). Диапазон увеличения от 0,67х до 5х обеспечивает широкий диапазон наблюдений и позволяет работать с печатными платами и подложками с топологией. Подробнее по ссылке.  

Стереомикроскоп Nikon SMZ 445 / SMZ 460

Стереомикроскоп Nikon SMZ 445 / SMZ 460

Данные модели стереоскопических микроскопов отличаются друг от друга углом наклона окуляров и увеличением трансфокатора: так у микроскопа Nikon SMZ445 увеличение 0,8х – 3,5х и угол наклона 45°, а у микроскопа Nikon SMZ460 увеличение 0,7х – 3,0х и угол наклона 60°. Специальные окуляры с диоптрийной настройкой для обеспечения парфокальности в сочетании с окулярами 20х микроскоп SMZ445 обеспечивает возможность наблюдений при максимуме 70х. нутренние поверхности трансфокатора обработаны специальным противогрибковым покрытием. Подробнее по ссылке.