Стереоскопические микроскопы Nikon идеально подходят для просмотра сварных соединений на плате и их деформацию при тестировании на отрыв, царапин и посторонних элементов (волосы, пыль и др.) на пластине, подготовки проб для электронной и оптической микроскопии, а также наблюдения неровностей геометрии на подложке (качество отверстий после сверления, неровность токопроводящих полосок и т.д.). Стереомикроскопы Nikon серии SMZ представлены шестью моделями.
Отличительной особенностью данной модели SMZ 25 перед остальными стереомикроскопами линейки Nikon SMZ является наличие системы Auto Link Zoom, которая позволяет в автоматическом режиме настроить коэффициент трансфокации для поддержания того же поля зрения при смене объективов. Функция позволяет осуществлять плавное переключение между изображением целого образца (подложка, плата, корпус) при низком увеличении и подробным изображением элемента (транзистор, конденсатор, контактная площадка ) при большом увеличении. Подробнее по ссылке.
Огромным преимуществом SMZ18 перед остальными стереомикроскопами линейки Nikon SMZ является возможность проведения исследований в темном поле (специализированный стенд), а также установлен кодированный револьвер, который позволяет установить два объектива. Еще одной отличительной особенностью микроскопа Nikon SMZ18 является то, что фокусировка производится вручную и Вы как технолог можете контролировать процесс измерения самостоятельно. Подробнее по ссылке.
Отличительной особенностью данной модели стереомикроскопа является то, что при наличии в сочетании с блоком управления камерой DS-L3 и программным обеспечением NIS-Elements, Nikon SMZ1270i способен в автоматическом режиме определять текущий коэффициент увеличения. Стоит отметить, что у данного микроскопа рабочее расстояние составляет 70 мм, что дает возможность технологу работать с большими образцами (пьезодатчики в сборе с креплением, пластины в сборе с корпусом и другие образцы микроэлектроники). Подробнее по ссылке.
Отличительной особенностью данной модели стереомикроскопа является наличие объективов Achro 0.5x ( с рабочим расстоянием 123.5 мм) и ED Plan 0.75x (с рабочим расстоянием 117 мм). Для различных конфигураций предлагаются различные окулярные тубусы — от простой конструкции до систем с рядом промежуточных модулей или цифровых камер. Благодаря эргономичному окулярному тубусу угол наблюдения можно регулировать в диапазоне от 0 до 30 градусов. Подробнее о стереомикроскопе по ссылке.
Отличительной особенностью данной модели стереомикроскопа является то, что он представлен в двух исполнениях: модель SMZ 745 T со встроенной тринокулярной головкой (с портом для цифровой камеры) и модель SMZ 745 с бинокуляром. Для реализации масштабирования 7,5х применяется оптическая система Грену (Greenough). Диапазон увеличения от 0,67х до 5х обеспечивает широкий диапазон наблюдений и позволяет работать с печатными платами и подложками с топологией. Подробнее по ссылке.
Данные модели стереоскопических микроскопов отличаются друг от друга углом наклона окуляров и увеличением трансфокатора: так у микроскопа Nikon SMZ445 увеличение 0,8х – 3,5х и угол наклона 45°, а у микроскопа Nikon SMZ460 увеличение 0,7х – 3,0х и угол наклона 60°. Специальные окуляры с диоптрийной настройкой для обеспечения парфокальности в сочетании с окулярами 20х микроскоп SMZ445 обеспечивает возможность наблюдений при максимуме 70х. нутренние поверхности трансфокатора обработаны специальным противогрибковым покрытием. Подробнее по ссылке.