Микроскоп для микроэлектроники MZ4400
Микроскоп для микроэлектроники MZ4400 предназначен для инспекции 300 миллиметровых пластин. Отдел компании поддерживает потребности научного сообщества с передовыми инновациями и технической экспертизой для визуализации, измерения и анализа микроструктур полупроводниковой промышленности.
Особенности микроскопа для микроэлектроники MZ4400
Точное обнаружение при всех типах освещения: быстрый макрос режим сканирования (а), обнаружение частиц в ярком поле (б), обнаружение микро царапин с углубленным темным полем (с), поиск дефектов на прозрачных пленках в режиме DIC (d). Менее чем за секунду происходит переключения режимов, и, что самое главное в микроскоп встроена функция контраста и освещенности для поддержки пользователей с небольшим опытом использования системы инспекции.
Тех. характеристики микроскопа для микроэлектроники MZ4400:
|
Параметр |
Значение |
| Увеличение | от 7х до 100х |
| Методы контрастирования | светлое, темное поле, поляризация, Дик, UV (наклонная) и OUV, макрорежим |
| Размер пластин, мм | 300 в диаметре |
| Фокус | ручной и автоматический |
| Свет | проходящий, отраженный |
Чтобы получить коммерческое предложение и купить микроскоп для микроэлектроники MZ4400 отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.