При производстве продукции микроэлектроники и приборостроения важно проводить инспекцию пластин в ультрафиолете. Данные инспекционные микроскопы для микроэлектроники используются в цехах микросборок, участках резки пластин, центральных заводских лабораториях, секторах измерительного и входного контроля и других подразделениях приборостроения. Микроскопы производства Leica моделей DM8000 и DM12000 позволяют работать с полупроводниковыми пластинами 200 и 300 мм соответственно.
Рады представить микроскоп для инспекции пластин 200 мм производства компании Leica модели DM8000. Данный микроскоп для микроэлектроники работает на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря ультрафиолетовому освещению 365 нм и свету под углом можно получить четкие изображения структур на пластине. На выбор пользователя предлагается ручной и моторизованный предметный стол с возможностью вращения для выравнивания полупроводниковых пластин. Подробнее по ссылке.
В отличие от микроскопа DM8000, модель DM12000 позволяет работать на полупроводниковых пластинах 300 мм и открывает перед пользователем еще больше возможностей для комфортной работы в области микроэлектроники. Leica Microsystems имеет многолетний опыт разработки инспекционных аналитических систем для полупроводниковой промышленности. Огромное количество опций позволяет создать комплектацию микроскопа, которые удовлетворят самые высокие требования. Подробнее по ссылке.