Микроскопы для микроэлектроники

При производстве продукции микроэлектроники и приборостроения важно проводить инспекцию пластин в ультрафиолете. Данные инспекционные микроскопы для микроэлектроники используются в цехах микросборок, участках резки пластин, центральных заводских лабораториях, секторах измерительного и входного контроля и других подразделениях приборостроения. Микроскопы производства Leica моделей DM8000 и DM12000 позволяют работать с полупроводниковыми пластинами 200 и 300 мм соответственно. 

Микроскоп для микроэлектроники Leica DM8000

Рады представить микроскоп для инспекции пластин 200 мм производства компании Leica модели DM8000. Данный микроскоп для микроэлектроники работает на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря ультрафиолетовому освещению 365 нм и свету под углом можно получить четкие изображения структур на пластине. На выбор пользователя предлагается ручной и моторизованный предметный стол с возможностью вращения для выравнивания полупроводниковых пластин. Подробнее по ссылке.   

Микроскоп для микроэлектроники Leica DM12000

В отличие от микроскопа DM8000, модель DM12000 позволяет работать на полупроводниковых пластинах 300 мм и открывает перед пользователем еще больше возможностей для комфортной работы в области микроэлектроники. Leica Microsystems имеет многолетний опыт разработки инспекционных аналитических систем для полупроводниковой промышленности. Огромное количество опций позволяет создать комплектацию микроскопа, которые удовлетворят самые высокие требования. Подробнее по ссылке.