Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 200 N

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 200 N

Представляем Вашему вниманию инспекционный микроскоп от японской производственной компании Nikon модели Eclipse LV 200 N. Отличительной особенностью данного микроскопа для инспекции пластин это то, что он может быть доукомплектован автоматическим загрузчиком пластин. Данные микроскопы для микроэлектроники были разработаны для работы на пластинах 200 мм. 

Инспекционный микроскоп NIKON LV 200 ND

Особенности инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 200 N

Данный прибор имеет широкий спектр методов анализа и оценки качества интегральных схем и LCD, применяется преимущественно в полупроводниковой промышленности, позволяет эффективно и комфортно производить инспекцию пластин диаметром 200 мм при эпископическом освещении.

— Галогеновый осветитель высокой интенсивности работает ярче по сравнению со стандартным 12В-100Вт. LV-LH50PC выдает яркость 12В 100Вт осветителя, но с вдвое меньшим потреблением. Это удобно для визуального контроля полупроводниковых схем и LCD. Встроенное заднее зеркало и оптимизация размера нити лампы позволяет эффективно и равномерно освещать изучаемую плоскость критичную в оптической системе. Объектив с увеличением 50х и более позволяет увеличить контраст на 20% по сравнению со стандартным осветителем 12В 100Вт.

— Улучшенное антистатическое покрытие базового блока, предметного столика, окулярного тубуса и остальных элементов контроля. Оно устойчиво против загрязнений, помогает предотвратить повреждение образца электростатическим зарядом.

— Тринокулярный наклоняемый тубус позволяет оператору выбрать комфортную позицию для работы и оптимальный угол наклона. Ультраширокое 25мм поле обзора и подстройка угла окуляра от 0 до 30°.

Инспекционный микроскоп NIKON LV 200

— Фиксирование X-Y позиций и точный контроль передвижений. Все элементы управления расположены рядом, что обеспечивают легкое перемещение столика и фокусировку.

— Моторизированная универсальная револьверная головка в три раза надежнее традиционных моделей. Позволяет установить до 6 объективов. Улучшенная центрация минимизирует сдвиг изображения при смене объектива, даже при высоком увеличении. Механизм «анти-вспышка» оберегает глаза оператора при повороте револьверной головки.

— Добавленная фокусировочная цель позволяет легко и аккуратно фокусироваться на образцах с низким контрастом, таких как голые пластины.

Улучшенная функциональность между микроскопом и цифровой камерой обеспечивает идеальную картинку.

Характеристики инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 200 N

Параметр 

Характеристики 

Базовый блок 

Источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения, встроенный источник питания для моторизированного контроля. Моторизированное управление универсальной револьверной головкой на шесть объективов, контроль уровня интенсивности освещения, управление апертурной диафрагмой 

Интерфейс 

USB x1, RS232C x1 

Окулярный тубус 

Тринокулярный LV-TI3 (изображение прямое, FOV 22 х 25мм, коэффициент расщепления луча 100:0/0:100) 

Тринокулярный наклоняемый L2-TT2A (ультраширокое поле, угол наклона 0 — 30°, изображение прямое, FOV 22 х 25мм, коэффициент расщепления луча 100:0/20:80) 

Тринокулярный наклоняемый L2-TTA (ультраширокое поле, угол наклона 0 — 30°, изображение прямое, FOV 22 x 25мм, коэффициент расщепления луча 100:0/0:100) 

Предметный столик 

L2-S8A 8×8 (Диапазон: 205×205 мм, диаскопический: 150 х 150 мм), возможна грубая/точная настройка, фиксация позиций XY, контроль точных перемещений  

Окуляры 

Окуляры серии CFI 

Объектив 

Объективы серии CFI LU/L Plan 

Габариты (Ш х Г х В)  

~ 360 х 860 х 580 мм (при угле наклона 10°) 

Вес (корпус) 

~ 30 кг (корпус) 

Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L 200 N, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.