Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N
Данный микроскоп для микроэлектроники имеет широкий спектр методов анализа, может использоваться в разных отраслях промышленности, в том числе специально для нужд полупроводниковой сферы, различных направлений радиоэлектронной промышленности, позволяет качественно и комфортно производить инспекцию пластин, шаблонов, изделий оптоэлектроники и лазерной техники.
Особенности инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 150 N
Одна из особенностей микроскопа: он может работать с образцами высотой до 38 мм (73 мм при использовании вставки – тубуса), тем самым позволяет производить инспекцию с приборами в сборе.
Микроскоп позволяет использовать широкий спектр методов наблюдений:
светлопольный,
темнопольный,
поляризационный,
дифференциально-интерференционный контраст (ДИК),
эпи-флуоресценции
двух лучевой интероферометрии.
Примеры используемых методов анализа и инспекции:
 |
Вид интегральной схемы с использованием микроскопии методом светлого поля (Brightfield microscopy). От объективов до осветительных систем, серия LV-N предлагает меры против вспышки и обеспечивает яркие, высококонтрастные изображения. Вид интегральной схемы |
 |
Вид интегральной схемы с использованием микроскопии темного поля (Darkfield microscopy).
|
 |
Вид подложки с использованием микроскопии светлого поля (Brightfield) и дифференциально-интерференционного контраста (Episcopic DIC) |
 |
Вид подложки (припоя) с использованием микроскопии светлого поля (Brightfield) и эпи-флуоресценции (Epi—fluorescence). |
 |
Вид минерала с использованием светлопольной микроскопии (Brightfield) и поляризационной микроскопии (Polarizing).
|
|
|
Анализ образцов с использованием двулучевой интерферометрии. |
Технические характеристики инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 150 N
|
Параметр |
Характеристики |
|
Базовый блок |
Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения |
|
Максимальная высота образца |
38 мм (при использовании с револьвертной головкой LVNU5AI U5AI и столика LV-S32 3×2 / LV-S64 6×4) |
| Предметный столик | LV-S32 3×2 (Диапазон: 75×50 мм), совместим с электростатическим разрядом |
| LV-S64 6×4 (Диапазон перемещений: 150×100 мм), совместим с электростатическим разрядом | |
| LV-S6 6×6 (Диапазон перемещений: 150×150 мм), совместим с электростатическим разрядом | |
| Окуляры | Окуляры серии CFI |
| Объектив | Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в соответствии с методом наблюдения |
| Энергопотребление | 1,2A/75 Вт |
| Вес (корпус) | около 8,6 кг |
Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 150 N, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.