Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND
Рады Вам предложить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND. Данный микроскоп создан специально для нужд микроэлектроники и радиоэлектронной промышленности. Микроскоп для микроэлектроники позволяет производить инспекцию полупроводниковых пластин и фотошаблонов, а также изделий оптоэлектроники и лазерной техники. Одной из особенностью микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND является то, что он может работать с образцами высотой до 38 мм, тем самым позволяет производить инспекцию с приборами в сборе.
Применение инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND
Методы анализа и инспекции полупроводниковых пластин микроскопа ECLIPSE LV 100 ND от японской производственной компании аналитического оборудования NIKON:
— Светлое поле
— Темное поле
— Поляризация
— Дифференциальный интерференционный контраст ДИК
— Эпифлуоресценция
— Двухлучевая интерферометрия
Области применения и объекты инспекции:
— микроэлектроника, оптические изделия, МЭМС, микросборки, печатные платы, поликоровые подложки
— материаловедение, шлифы, кристаллография, магнитные материалы, волокна, текстиль
— автомобилестроение, детали машин, зубчатые механизмы, резинотехнические изделия
— металловедение, слюда, минералы, часовые механизмы, дисплеи, фотошаблоны
Особенности инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND
Источник отраженного света
При инспектировании полупроводниковых пластин и изделий микроэлектроники необходимо работать в темном поле. При данном методе исследования важен источник отраженного света. Именно поэтому в микроскопе Nikon ECLIPSE LV100ND предусмотрен галогенный источник света мощностью 50 Вт. Галогенная лампа имеет низкое энергопотребление и позволяет минимизировать тепловое воздействие. Галогенный источник отраженного света имеет компактные размеры и удобно встроен в конфигурации инспекционных микроскопов Nikon серии ECLIPSE.
Инспекция крупногабаритных образцов и объектов требующих нагрев
Благодаря универсальной конструкции инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV100ND имеется возможность использования предметных столиков различных производителей. Также можно добавить столик с поддержкой температуры, когда требуется анализ изменений свойств образцов при нагревании и охлаждении. Благодаря специальным вставкам в предметных столиках возможна инспекция объектов высотой до 116,5 мм. В стандартную комплектацию микроскопа входит предметный столик LV-S32 3×2 (Диапазон перемещений: 75×50 мм включая стеклянную пластину).
Программное обеспечение с возможностью сшивки изображений
Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND имеет мощное программное обеспечение NIS Elements, позволяющее проводить анализ полученных изображений и делать дальнейшую обработку. У пользователя имеется возможность сшивать несколько изображений для увеличения поля зрения даже во время съемки, а также создавать одно полностью сфокусированное фото, благодаря увеличенной глубине резкости. Результаты измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.
Тех. характеристики инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND
|
Параметр |
Характеристики |
| Базовый блок | Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения |
| Максимальная высота образца | 38 мм |
| Фокусировочный механизм | Слева: грубая и точная фокусировка/ Справа: точная фокусировка, ход 40 мм,
Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки) |
| Револьверы объективов | Шестиместный револьвер Пятиместный универсальный револьвер «Интеллектуальный» пятиместный универсальный револьвер |
| Диаскопический осветитель | Осветитель LV-LH50PC 12 В 50 Вт с предварительной центровкой (фасеточная оптика) Диафрагма осветителя (центрируемая) и апертурная синхронизируемые с переключением режимов падающий/проходящий свет; вставные фильтры (ND8, NCB11) |
| Конденсор | Ахроматический (светлое поле), сухой (фазовый контраст, диаскопический DIC, тёмное поле), и т.д. |
| Объектив | Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения |
| Энергопотребление | 1,2A/75Вт |
| Вес (корпус) | около 9,5кг |
Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND в Москве, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.