Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Рады Вам предложить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND. Данный микроскоп создан специально для нужд микроэлектроники и радиоэлектронной промышленности. Микроскоп для микроэлектроники позволяет производить инспекцию полупроводниковых пластин и фотошаблонов, а также изделий оптоэлектроники и лазерной техники. Одной из особенностью микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND является то, что он может работать с образцами высотой до 38 мм, тем самым позволяет производить инспекцию с приборами в сборе.  

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Применение инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Инспекция пластин на микроскопе Nikon ECLIPSE

Методы анализа и инспекции полупроводниковых пластин микроскопа ECLIPSE LV 100 ND от японской производственной компании аналитического оборудования NIKON:
— Светлое поле
— Темное поле
— Поляризация
— Дифференциальный интерференционный контраст ДИК
— Эпифлуоресценция
— Двухлучевая интерферометрия

Области применения и объекты инспекции:
— микроэлектроника, оптические изделия, МЭМС, микросборки, печатные платы, поликоровые подложки
— материаловедение, шлифы, кристаллография, магнитные материалы, волокна, текстиль
— автомобилестроение, детали машин, зубчатые механизмы, резинотехнические изделия
— металловедение, слюда, минералы, часовые механизмы, дисплеи, фотошаблоны

Инспекционный микроскоп Nikon

Особенности инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Источник отраженного света

Источник отраженного света

При инспектировании полупроводниковых пластин и изделий микроэлектроники необходимо работать в темном поле. При данном методе исследования важен источник отраженного света. Именно поэтому в микроскопе Nikon ECLIPSE LV100ND предусмотрен галогенный источник света мощностью 50 Вт. Галогенная лампа имеет низкое энергопотребление и позволяет минимизировать тепловое воздействие. Галогенный источник отраженного света имеет компактные размеры и удобно встроен в конфигурации инспекционных микроскопов Nikon серии ECLIPSE.   

Инспекция крупногабаритных образцов и объектов требующих нагрев

Предметные столики для микроскопов

Благодаря универсальной конструкции инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV100ND имеется возможность использования предметных столиков различных производителей. Также можно добавить столик с поддержкой температуры, когда требуется анализ изменений свойств образцов при нагревании и охлаждении. Благодаря специальным вставкам в предметных столиках возможна инспекция объектов высотой до 116,5 мм. В стандартную комплектацию микроскопа входит предметный столик LV-S32 3×2 (Диапазон перемещений: 75×50 мм включая стеклянную пластину).

Программное обеспечение с возможностью сшивки изображений

Сшивка изображений на микроскопе Nikon Eclipse LV 100 ND

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND имеет мощное программное обеспечение NIS Elements, позволяющее проводить анализ полученных изображений и делать дальнейшую обработку. У пользователя имеется возможность сшивать несколько изображений для увеличения поля зрения даже во время съемки, а также создавать одно полностью сфокусированное фото, благодаря увеличенной глубине резкости. Результаты измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.

Тех. характеристики инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE LV 100 ND

Параметр

Характеристики

Базовый блок Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения
Максимальная высота образца 38 мм
Фокусировочный механизм Слева: грубая и точная фокусировка/ Справа: точная фокусировка, ход 40 мм,

Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки)
Точная фокусировка: 0,1 мм/оборот (шкала 1 мкм)

Револьверы объективов Шестиместный револьвер
Пятиместный универсальный револьвер
«Интеллектуальный» пятиместный универсальный револьвер
Диаскопический осветитель Осветитель LV-LH50PC 12 В 50 Вт с предварительной центровкой (фасеточная оптика)
Диафрагма осветителя (центрируемая) и апертурная синхронизируемые с переключением режимов падающий/проходящий свет; вставные фильтры (ND8, NCB11)
Конденсор Ахроматический (светлое поле), сухой (фазовый контраст, диаскопический DIC, тёмное поле), и т.д.
Объектив Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения
Энергопотребление 1,2A/75Вт
Вес (корпус) около 9,5кг

Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV 100 ND в Москве, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.