Рады предложить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L300N/L300ND. Инспекционный микроскоп для изучения и контроля качества интегральных схем - это инструмент, который используется для анализа и проверки микроэлектронных компонентов на предмет дефектов, загрязнений и других несоответствий. Микроскоп позволяет получить увеличенное изображение интегральной схемы, что позволяет детально изучить ее структуру и определить наличие дефектов.
В инспекционных микроскопах Nikon ECLIPSE L300N и L300ND используются специальные объективы серии CFI TU Plan Fluor. Данные объективы имеют высокую числовую апертуру и при инспекции пластин позволяет четкие изображения. Благодаря линзам, которые выполнены специалистами Nikon удалось уменьшить хроматические шумы и получить более четкую картинку образцов. Отличительной чертой модели L300ND от ECLIPSE L300N это встроенная галогенная лампа 12В-50Вт, встроенная апертурная диафрагма и встроенный LWD-конденсор.
Особенности инспекционного микроскопа Nikon ECLIPSE L300N и Nikon ECLIPSE L300ND
1 Тринокулярный тубус с регулируемым углом наклона
2 Контроль прецизионного движения по оси X-Y
3 Универсальная револьверная головка с ручным переключением
4 Управление вынесено на переднюю панель
Методы анализа: светлое и темное поле, поляризация, ДИК, эпифлуоресценция. Помимо инспекции пластин микроскоп Nikon Eclipse L 300 N может применяться в различных областях
- оптоэлектроника, микроэлектронные изделия, МЭМС - датчики, гироскопы, платы, подложки из ситалла и поликора
- материаловедение, шлифы, кристаллография, магнитные материалы
- автомобилестроение, детали машин, зубчатые механизмы
- металловедение, часовые механизмы, дисплеи, фотошаблоные заготовки
Параметр |
Характеристики |
Диаскопический осветитель | (у модели ECLIPSE L300ND) Встроенная галогенная лампа12В-50Вт Встроенная апертурная диафрагма Встроенный LWD-конденсор |
Фокусировочный механизм | Ход фокусировки: 29 мм Грубая фокусировка: 12,7 мм/об. (регулировка усилия, имеется механизм рефокусировки) Точная фокусировка: 0,1 мм/об. (шаг 1 мкм) |
Окуляры | Линзы окуляров серии CFI |
Объективы | CFI TU Plan Fluor |
Предметные столики | Столик 14x12, перемещение: 354 x 302 мм (диапазон диаскопических наблюдений: 354 x 268 мм) Возможность грубого и точного перемещения Контроль перемещения по оси X-Y (с фиксированным положением) |
Габариты | Примерно 360 (Ш) x 951 (Д) x 581 (В) мм (при угле наклона 10°) |
Вес | Около 45 кг (только станина) Около 64 кг (с использованием предметного столика 14x12 и окулярного тубуса L2-TTA) |
Чтобы получить коммерческое предложение и купить инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L 300 N в Москве, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.
124498, город Москва, г. Зеленоград, Георгиевский проспект, дом 5
info@mivatek.ru