Сканирующий полевой микроскоп

Сканирующий полевой микроскоп

Рады предложить сканирующий полевой микроскоп модели JIB-4700F. Микроскоп JIB-4700F – это двулучевая система, представляющая собой полевой растровый электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления.

Сканирующий полевой микроскоп JIB

JIB-4700F оснащен гибридной конической линзой объектива, режимом GENTLEBEAM™ (GB) и системой детекторов в объективе, обеспечивающей гарантированное разрешение 1,6 нм при низком ускоряющем напряжении 1 кВ. Используя «линзовую электронную пушку Шоттки», которая генерирует электронный луч с максимальным током зонда 300 нА, позволяет проводить наблюдения с высоким разрешением и проводить быстрый анализ. Для колонки FIB используется ионный пучок Ga с высокой плотностью тока до 90 нА, максимальный ток зонда для быстрого ионного измельчения и обработки образцов.

Чтобы получить коммерческое предложение и купить сканирующий полевой микроскоп, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.