Настольный электронный микроскоп

Настольный электронный микроскоп JEOL JCM-7000 

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простая в использовании электронная микроскопия с плавной навигацией и анализом в реальном времени». JCM-7000 включает в себя три инновационные функции; «Zeromag» для плавного перехода от оптической к SEM-визуализации, «Live-анализ» для поиска составляющих элементов для области наблюдения изображения и «Live 3D» для отображения восстановленного живого 3D-изображения во время SEM-наблюдения.

Настольный сканирующий микроскоп

Особенности настольного растрового микроскопа

Этот сканирующий микроскоп Neoscope 4-го поколения включает в себя передовые технологии и функции, которые позволяют пользователям с любым уровнем навыков получать выдающиеся изображения SEM и результаты элементного анализа в считанные минуты. Он оснащен большой камерой, режимами высокого и низкого вакуума, электронными детекторами вторичного и обратного рассеяния, трехмерной визуализацией в реальном времени, усовершенствованными автоматическими функциями и возможностью добавления полностью встроенной электронной цифровой подписи с анализом в реальном времени.

Настольный электронный микроскоп

С помощью сканирующего микроскопа модели JCM-7000 возможно сделать анализ загрязнения и легко обнаружить инородный материал и определить элементный состав. В качестве примера показан анализ черного инородного материала, прилипшего к поверхности пищевого продукта, а также показан принцип работы сканирующего микроскопа.

Принцип работы настольного электронного микроскопа

Принцип работы сканирующего микроскопа

Система Zeromag позволяет увеличивать оптическое изображение и автоматически переключиться на изображение SEM. В низковакуумном режиме возможен просмотр без предварительной обработки, необходимой для легко заряженных образцов. 

Сканирующий микроскоп цена

На настольном сканирующем микроскопе модели JCM-7000 возможен анализ в реальном времени, это устраняет необходимость рассматривать наблюдения SEM и анализ EDS как отдельные операции. Когда система Live Map выбрана, вы можете в реальном времени подтвердить распределение элементов в наблюдаемой области.

Настольный сканирующий электронный микроскоп

Характеристики настольного растрового микроскопа JEOL JCM 7000

Параметр 

Характеристики 

Исполнение  

Настольное 

Ускоряющее напряжение, кВ 

5, 10 и 15  

Макс. размер образца, мм 

80 х 80 х 50 

Столик по осям X Y 

Моторизованный

Чтобы получить коммерческое предложение и купить настольный электронный микроскоп, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.