Сканирующий термоэмиссионный электронный микроскоп

Сканирующий термоэмиссионный электронный микроскоп

Компания МИВАТЭК представляет электронный термоэмиссионный микроскоп серии JIB. Термоэмиссионный микроскоп JIB-4000PLUS — это система формирования изображений с фокусированным ионным пучком (однолучевая система FIB) с высокоэффективной ионно-оптической колонной. Ускоренный пучок ионов Ga (галлия) фокусируется на образце, чтобы можно было наблюдать с помощью карты поверхность образца, измельчение и осаждение таких материалов, как углерод или вольфрам. 
Электронный микроскоп JIB

Система также позволяет подготовить образец тонкой пленки для получения изображения ПЭМ и образец поперечного сечения для наблюдения за внутренней частью образца. Кроме того, JIB-4000PLUS может быть оснащен функцией трехмерного наблюдения и функцией автоматической подготовки образцов ТЭМ; таким образом, система удовлетворяет различные потребности в подготовке образцов. 

Сканирующий термоэмиссионный электронный микроскоп JIB

Чтобы получить коммерческое предложение и купить сканирующий термоэмиссионный электронный микроскоп, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.