Сканирующие микроскопы с полевой эмиссией

Сканирующие микроскопы с полевой эмиссией

Электронные микроскопы

Рады предложить напольные сканирующие микроскопы с полевой эмиссией. Более высокая яркость достигается за счет оптимального сочетания электронной пушки конструкции “in-lens” и линз конденсора с низкой аберрацией. Ток зонда от нескольких пикоампер до нескольких десятков нА достижим даже при низком ускоряющем напряжении, за счет эффективного сбора электронов, генерируемых пушкой, что позволяет получать как высокое разрешение, так и картины дифракции отраженных электронов на наноуровне. 

Сканирующий полевой микроскоп JIB

Сканирующий полевой микроскоп JIB

Стабильная, надежная электронно-оптическая колонна обеспечивает высокое разрешение (1,2 нм при 15 кВ в режиме регистрации вторичных электронов) и позволяет анализировать морфологию объектов наномира. Термополевой катод обеспечивает высокие и стабильные токи пучка, что делает возможным проведение элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п. Подробнее по ссылке.

Сканирующий микроскоп с полевой эмиссией JSM

Сканирующий микроскоп с полевой эмиссией JSM

Растровые электронные микроскопы компании JEOL серии JSM, разрабатывались как универсальные приборы, способные работать практически с любыми образцами и решать практически любые задачи. Этот РЭМ позволяет изучать даже магнитные, электронепроводящие, биологические, а также чувствительные к воздействию электронного пучка образцы. Высокое значение максимального тока пучка и наличие большого количества портов в камере образцов позволяют оснащать этот РЭМ множеством различных приставок. Подробнее по ссылке.