Сканирующий микроскоп с полевой эмиссией

Сканирующий микроскоп с полевой эмиссией

Компания МИВАТЭК представляет сканирующие микроскопы с полевой эмиссией от японского производителя компании JEOL. Разработанная функциональность, которая объединяет систему управления объективом и автоматическую технологию «Neo Engine» (New Electron Optical Engine). Несмотря на то, что электронно-оптическое состояние изменяется, происходит незначительное изменение выравнивания луча, что позволяет быстро и легко получать изображения при любом ускоряющем напряжении и токе зонда. Системы являются ярким примером передовой технологии электронной оптики JEOL.
Сканирующий микроскоп с полевой эмиссией JSM

Данные растровые электронные микроскопы позволяют изучать даже магнитные, электронепроводящие, биологические, а также чувствительные к воздействию электронного пучка образцы. Примененная в них запатентованная компанией JEOL технология Shottky Plus позволяет достигать высокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях (1,6 нм при 1 кВ), а также получать высокие токи пучка – до 300 нА.

Сканирующий микроскоп с полевой эмиссией

Чтобы получить коммерческое предложение и купить сканирующий микроскоп с полевой эмиссией, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.