Сканирующие электронные микроскопы

Сканирующие электронные микроскопы

Электронные микроскопы

Сканирующие настольные электронные микроскопы японской компании JEOL идеально подходят для сотрудников лабораторий материаловедения, а также тем, кто занимается металлографией. Данные микроскопы хорошо себя зарекомендовали на предприятиях приборостроения и машиностроения, а также в научных учреждениях и научно-исследовательских институтах. Позволяет производить качественный экспресс анализ широкого спектра образцов от простых биологических до редких элементов. 

Настольный электронный микроскоп 

Настольный сканирующий микроскоп

Предлагаем рассмотреть настольный сканирующий электронный микроскоп JEOL JCM-7000 NEOSCOPE, который подойдет для работы с небольшими образцами в лаборатории и мелкосерийном производстве. Данный сканирующий микроскоп может работать в режиме высокого и низкого вакуума. В микроскопе JEOL JCM-7000 есть различные системы управления: при помощи компьютерной мыши, сенсорного 23-дюймового монитора или дистанционно с планшета iPad (опционально). Подробнее по ссылке.   

Настольный сканирующий микроскоп 

Настольный сканирующий микроскоп JEOL

Предлагаем рассмотреть настольный сканирующий микроскоп JEOL JCM 6000, который является надежным инструментом при исследованиях различных образцов металловедения и материаловедения. Уже тысячи заказчиков по всему миру оценили технологические возможности данного настольного сканирующего микроскопа. Мощное программное обеспечение позволяет использовать различные функции и инструменты для простой работы на сканирующем микроскопе. Подробнее по ссылке.   

Напольный растровый термоэмиссионный микроскоп

Электронный термоэмиссионный микроскоп

Высокопроизводительные аналитические многофункциональные растровые электронные микроскопы. Приборы оборудованы новой электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества. Оборудование находит широкое применение: от фундаментальных исследований, до решения прикладных задач на производствах. Имеются системы со сфокусированным ионным пучком, которые могут быть использованы в режиме ионного микроскопа для анализа морфологии поверхности образцов. Подробнее по ссылке.

Напольный сканирующий микроскоп с полевой эмиссией

Электронный микроскоп с полевой эмиссией

Рады предложить напольные сканирующие микроскопы с полевой эмиссией. Более высокая яркость достигается за счет оптимального сочетания электронной пушки конструкции “in-lens” и линз конденсора с низкой аберрацией. Ток зонда от нескольких пикоампер до нескольких десятков нА достижим даже при низком ускоряющем напряжении, за счет эффективного сбора электронов, генерируемых пушкой, что позволяет получать как высокое разрешение, так и картины дифракции отраженных электронов на наноуровне. Подробнее по ссылке. 

Чтобы получить коммерческое предложение и купить сканирующие электронные микроскопы, отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.