Растровые термоэмиссионные микроскопы

Растровые термоэмиссионные микроскопы

Электронные микроскопы

Высокопроизводительные аналитические многофункциональные растровые электронные микроскопы. Приборы оборудованы новой электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества. Оборудование находит широкое применение: от фундаментальных исследований, до решения прикладных задач на производствах. Имеются системы со сфокусированным ионным пучком, которые могут быть использованы в режиме ионного микроскопа для анализа морфологии поверхности образцов. 

Растровый микроскоп с термоэмиссией JASM ClairScope

Электронный микроскоп JASM

Представляем к рассмотрению электронный микроскоп с термоэмиссией модели JASM ClairScope™. Темоэмиссионный микоскоп ClairScope™ создан для исследования образцов при атмосферном давлении с использованием ASEM. Это дает возможность получать изображения с высоким разрешением без предварительного проведения обезвоживания/высушивания, требующего высококвалифицированного специалиста. Подготовка образца сводится к нескольким простым шагам, занимающим около 10-15 минут. Подробнее по ссылке

Электронный термоэмиссионный микроскоп JSM

Электронный микроскоп JSM

Компания МИВАТЭК рада предложить электронный термоэмиссионный микроскоп серии JSM. Стоит особо отметить систему управления электронными микроскопами JSM, основанная на Windows 7. Она позволяет управлять микроскопом четырьмя способами: при помощи клавиатуры и мыши; при помощи консоли оператора РЭМ; используя сенсорный 23-дюймовый монитор; дистанционно, с iPad по сети Wi-Fi. Последний способ хорош для исследований в «чистых помещениях», где длительное нахождение персонала нежелательно. Подробнее по ссылке.

Сканирующий термоэмиссионный электронный микроскоп JIB

Электронный микроскоп JIB

Рады предложить сканирующие термоэмиссионные микроскопы серии JIB От японской компании JEOL. По желанию заказчика микроскопы серии JIB могут быть одновременно укомплектованы двумя столиками образцов, первый из которых полностью совместим со стандартными держателями образцов растровых электронных микроскопов, а второй – с держателями ПЭМ. Эта опция позволяет проверять качество приготовления образцов, для исследований методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии. Подробнее по ссылке