Микроскоп для микроэлектроники Leica DM12000

Микроскоп для микроэлектроники Leica DM12000

Микроскоп для микроэлектроники Leica DM 12000 предназначен для инспекции 300 миллиметровых пластин. Отдел естественных наук Leica Microsystems поддерживает потребности научного сообщества с передовыми инновациями и технической экспертизой для визуализации, измерения и анализа микроструктур. 
Микроскоп для микроэлектроники Leica DM12000

Точное обнаружение при всех типах освещения: быстрый макрос режим сканирования (а), обнаружение частиц в ярком поле (б), обнаружение микро царапин с углубленным темным полем (с), поиск дефектов на прозрачных пленках в режиме DIC (d). Менее чем за секунду происходит переключения режимов, и, что самое главное в микроскоп встроена функция контраста и освещенности для поддержки пользователей с небольшим опытом использования системы инспекции.

Микроскоп для инспекции полупроводниковых пластин

Тех. характеристики микроскопа для микроэлектроники Leica DM12000:

Параметр 

Значение 

Увеличение  от 7х до 3000х 
Методы контрастирования  светлое, темное поле, поляризация, Дик, UV (наклонная) и  OUV, макрорежим 
Размер пластин, мм  300 в диаметре 
Фокус  ручной и автоматический   
Свет  проходящий, отраженный 

 

Чтобы получить коммерческое предложение и купить микроскоп для микроэлектроники Leica DM12000 отправьте заявку на наш электронный адрес info@mivatek.ru или напишите нам через форму обратной связи в разделе Контакты.