Главная
Оборудование для микроэлектроники
Измерительное оборудование
Оборудование для лабораторий
Обеспечение производства
Поставки
Новости
Товар в наличии
События
Новинки
Партнеры
Контакты

Поликристаллический слой на пластине

Главная / Рефлектометр для измерения толщины тонких пленок и оптических характеристик FR-Scanner
Поликристаллический слой на пластине

1

Сен,2018

Автор:admin

Поликристаллический слой на пластине

Об авторе

admin administrator

Наш адрес:

124498, город Москва, г. Зеленоград, Георгиевский проспект, дом 5

Наша почта:

info@mivatek.ru

Не нашли оборудование, которое искали? Позвоните нам, мы поможем Вам

8-495-987-12-35

© 2024 ООО «МИВАТЭК». Все права защищены.