Измерение толщины тонких пленок

Измерение толщины тонких пленок 

Измерение толщины тонких пленок

Рады предложить Вам модельный ряд рефлектометров от компании Thetametrisis. На выбор предлагается широкая линейка систем измерения толщины тонких пленок и оптических констант. Имеются как ручные варианты, так и полностью автоматизированные системы анализа. Огромное количество опций, такие как встроенный микроскоп, измерение при температуре, измерение пленки в режиме online, специальные держатели под образцы заказчика. Модельный ряд представлен системами измерения FR-pOrtable, FR-Basic, FR-μProbe, FR-Scanner.

Система измерения толщины тонких пленок и оптических констант FR-pOrtable

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-pOrtable

Система FR-pOrtable измерения толщины тонких пленок позволяет работать с широкой линейкой материалов микроэлектроники и пленками различной толщины и природы. Отличительной чертой данной системы толщины пленок является ее компактность и простота управления во время процесса анализа поверхности. К системе анализа пленок FR-pOrtable от компании Thetametrisis идет огромное количество комплектующих и других опций, которые помогут оптимизировать процесса измерения пленок. Подробнее по ссылке

Прибор для измерения толщины тонких пленок и оптических констант FR-Basic

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-Basic

Прибор для измерения толщины тонких пленок и оптических констант модели FR-Basic имеет модульную конструкцию, что позволяет собрать нужную конфигурацию под задачи заказчика. Отличительной особенностью данного прибора измерения пленок модели FR-Basic, является широкий спектральный диапазон и компактный дизайн. Корпус и движущие детали выполнены из современных материалов, которые позволяют эксплуатировать прибор для измерения толщины долгое время. Подробнее по ссылке.   

Измеритель толщины тонких пленок и оптических коэффициентов FR-μProbe с микроскопом

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-μProbe с микроскопом

Специальный измеритель толщины тонких пленок и оптических коэффициентов модели FR-μProbe, позволяющий мерить широкий диапазон пленок и покрытий. Отличительной особенностью данного измерителя толщины, является микроскоп, позволяющий наблюдать за процессом анализа поверхности и контролировать работу. Микроскоп может быть подобран, исходя из требуемых увеличений и задач, а также предпочтений заказчика к определенным маркам измерительных систем. Подробнее по ссылке.

Рефлектометр для измерения толщины тонких пленок и оптических характеристик FR-Scanner

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-Scanner

Рефлектометр для измерения толщины тонких пленок и оптических характеристик модели FR-Scanner от греческой производственной компании Thetametrisis. Отличительной особенностью данного рефлектометра модели FR-Scanner является автоматическое построение 3D карт поверхности. Благодаря высокой скорости сканирования, заказчик может получить полный анализ поверхности пленок в кротчайшее время. Например, сканирование 8-дюймовой пластины Si в 625 точках занимает менее 60 секунд. Подробнее по ссылке.