Измерение толщины тонких пленок

Измерение толщины тонких пленок 

Измерение толщины тонких пленок

Рады предложить Вам модельный ряд рефлектометров от компании Thetametrisis. На выбор предлагается широкая линейка систем измерения толщины тонких пленок и оптических констант. Имеются как ручные варианты, так и полностью автоматизированные системы анализа. Огромное количество опций, такие как встроенный микроскоп, измерение при температуре, измерение пленки в режиме online, специальные держатели под образцы заказчика. Модельный ряд представлен системами измерения FR-pOrtable, FR-Basic, FR-μProbe, FR-Scanner.

Система измерения толщины тонких пленок и оптических констант FR-pOrtable

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-pOrtable

FR-pOrtable система измерения пленок идеальное решение для НИОКР и анализа при мелкосерийном производстве. Позволяет провести анализ однопленочных и многослойных структур. С помощью модели FR-pOrtable пользователь может выполнить измерения коэффициента отражения и пропускания для пленок в спектральном диапазоне от 370 до 1020 нм. Компактная конструкция системы измерения толщины пленок FR-pOrtable и специальный зонд отражения гарантируют высокую точность и повторяемость проводимых измерений. Подробнее по ссылке

Прибор для измерения толщины тонких пленок и оптических констант FR-Basic

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-Basic

FR-Basic модульная и универсальная серия инструментов измерения пленок выполненная на единой технологической платформе. Полностью универсальная система, которая позволяет сконструировать прибор для измерения пленок, исходя из задач заказчика и потребности клиента. Данный инструмент рефлектометр может быть использован в широком диапазоне спектра и может достигать 1700 нм. FR-Basic состоит из четырех модулей: спектрометр, опорная технологическая платформа, соединительный элемент, специальные держатели. Подробнее по ссылке.   

Измеритель толщины тонких пленок и оптических коэффициентов FR-μProbe с микроскопом

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-μProbe с микроскопом

FR-μProbe представляет собой портативный толщиномер для оптических измерений в различных режимах, таких как поглощение, коэффициент пропускания, коэффициент отражения и флуоресценция в точке через оптический микроскоп. Рефлектометр включает в себя два оптических компонента: спектрометр, работающий в спектральном диапазоне, поддерживаемый микроскопом, и адаптер для линзы окуляра оптического микроскопа. Источником света, используемым для измерений, является оптический микроскоп. Подробнее по ссылке.

Рефлектометр для измерения толщины тонких пленок и оптических характеристик FR-Scanner

Система измерения толщины пленок и оптических констант FR-Scanner

FR-Scanner — компактный настольный инструмент, подходящий для автоматического измерений тонких пленок и покрытий на больших подложках. FR-Scanner — инструмент для быстрого и точного сканирования пленок с точки зрения толщины, показателя преломления и однородности. Например, сканирование 8-дюймовой пластины Si в 625 точках занимает менее 60 секунд. Оптическая голова имеет уникальную конструкцию и включает спектрометр, гибридный источник света и другие оптические детали. Подробнее по ссылке.